Microwave noise measurements on nanoelectronic devices
Microwave noise measurements on nanoelectronic devices
isbn9789526089379.pdf
(Aalto University - Aaltodoc)
Linkki verkkoaineistoon
(Turun yliopisto)
Saved in:
| Genre | |
|---|---|
| Physical Description |
65 sivua, 46 sivua useina numerointijaksoina : kuvitettu ; 25 cm Yhteenveto-osa julkaistu myös verkkoaineistona |
| Language |
English |
| Language of Original Work |
English |
| Language of Abstract |
Finnish |
| Item Description |
Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja viisi eripainosta. |
| Publisher |
Helsinki :
Aalto University,
[2020]
|
| Dissertation Note | Väitöskirja : Aalto-yliopisto, teknillisen fysiikan laitos, 2020 |
| Series | Aalto University publication series, Doctoral dissertations, 2020, 19. |
| Classification | |
| Subjects | |
| Manufacturer | Helsinki : Unigrafia Oy, 2020. |
| Additional Information | Teemu Elo |
| Verkkoaineisto (yhteenveto-osa) |
978-952-60-8937-9 |
| Bibliography |
Sisältää bibliografisia viitteitä. |
| ISBN |
978-952-60-8936-2 pehmeäkantinen |
| Standard Codes |
(FI-MELINDA)016796215 20210109122500.0 |