Microwave noise measurements on nanoelectronic devices
Microwave noise measurements on nanoelectronic devices
isbn9789526089379.pdf
(Aalto-yliopisto - Aaltodoc)
Linkki verkkoaineistoon
(Turun yliopisto)
Tallennettuna:
Genre | |
---|---|
Ulkoasu |
65 sivua, 46 sivua useina numerointijaksoina : kuvitettu ; 25 cm Yhteenveto-osa julkaistu myös verkkoaineistona |
Kieli |
englanti |
Alkuteoksen kieli |
englanti |
Tiivistelmän kieli |
suomi |
Huomautukset |
Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja viisi eripainosta. |
Julkaisija |
Helsinki :
Aalto University,
[2020]
|
Opinnäyte | Väitöskirja : Aalto-yliopisto, teknillisen fysiikan laitos, 2020 |
Sarja | Aalto University publication series, Doctoral dissertations, 2020, 19. |
Luokitus | |
Aiheet | |
Valmistaja | Helsinki : Unigrafia Oy, 2020. |
Lisätiedot | Teemu Elo |
Verkkoaineisto (yhteenveto-osa) |
978-952-60-8937-9 |
Bibliografia |
Sisältää bibliografisia viitteitä. |
ISBN |
978-952-60-8936-2 pehmeäkantinen |
Standarditunnukset |
(FI-MELINDA)016796215 20210109122500.0 |