Technological change and regulatory heterogeneity : a comparative study on patent infringement analysis in the US, Japan and Korea
Finna-arvio
Technological change and regulatory heterogeneity : a comparative study on patent infringement analysis in the US, Japan and Korea
Tallennettuna:
Ulkoasu |
235, [1] sivua : kuvitettu ; 25 cm |
---|---|
Kieli |
englanti |
Alkuteoksen kieli |
englanti |
Tiivistelmän kieli |
englanti |
Julkaisija |
Vaasa :
University of Vaasa,
2000.
|
Sarja | Vaasan yliopiston julkaisuja, Tutkimuksia, ISSN 0788-6667; 233. Vaasan yliopiston julkaisuja, ISSN 0788-673X; 8. |
Luokitus | |
Aiheet | |
Lisätiedot | Na Ri Lee |
ISBN |
951-683-859-6 nidottu |