Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
Finna-arvio
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
xxiii, 550 sivua : kuvitettu |
|---|---|
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Julkaisija |
New York :
Springer,
©2018
|
| Luokitus | |
| Aiheet | |
| Lisätiedot | Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy |
| ISBN |
9781493982691 nidottu |