Perinteisesti elektroniikan kokoonpanojen luotettavuutta on testattu kiihdytetyillä elinaikatesteillä yhtä rasitusparametriä hyväksikäyttäen. Tässä diplomityössä pyrittiin kehittämään uusi rinnakkainen yhdistelmätestausmenetelmä, joka simuloisi tuotteiden todellisia käyttöolosuhteita todenmukaisemmin. Rasituksien yhdistämisen uskotaan myös nopeuttavan vauriomekanismejä ja täten lyhentävän testaukseen käytettyä aikaa. Työ keskittyi termomekaanisten ja mekaanisten rasitusten yhdistämiseen.

Työn kirjallisuusosa käsitteli kiihdytettyjä elinaikatestejä. Oleelliset yhden rasituksen testimenetelmät käytiin läpi ennen syventymistä useita rasitusparametrejä hyödyntäviin testeihin kirjallisuusselvityksen avulla.

Työn kokeellisessa osassa yhdistettiin tehosyklaus ja tärinätestaus yhdeksi testimenetelmäksi. Ennen rasitusten yhdistämistä suoritettiin yhden rasitusparametrin tehosykli- ja tärinätestit varsinaisten testiparametrien määrittämiseksi ja rinnakkaistestauksen vikaantumismekanismien selvittämiseksi. Tulokset olivat yhtäpitäviä aikaisempien asiasta suoritettujen tutkimusten kanssa, elinaikojen yhdistelmätestauksessa ollessa huomattavasti lyhyempiä kuin oli oletettu erillisten yhden rasitusparametrin testien tulosten perusteella. Yhdistelmätestauksessa havaitut vikaantumismoodit olivat hyvin samankaltaisia tärinätesteissä havaittujen moodien kanssa ja vaurioitumisnopeuden kasvun oletettiin johtuvan juoteliitoksien lämpötilasta aiheutuvien mekaanisten ominaisuuksien muutoksista.

Tulokset osoittivat, että testiparametrien huolellisella valinnalla voidaan uudella menetelmällä saavuttaa todellisia käyttöympäristöjä todenmukaisemmin edustava rasitusympäristö sekä lyhentää testiaikoja merkittävästi. On myös huomioitava, että yksittäin lähes merkityksettömillä rasituksilla saattaa olla merkittäviä yhteisvaikutuksia luotettavuuteen, joita ei voida huomioida perinteisillä yhden rasituksen testeillä.