Matkaraportti SCANDEM'98 konferenssista ja Tukholman 4. elektronikristallografian kesäkoulusta
Finna-arvio
Matkaraportti SCANDEM'98 konferenssista ja Tukholman 4. elektronikristallografian kesäkoulusta
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
5 lehteä : kuvitettu ; 30 cm |
|---|---|
| Kieli |
suomi englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti suomi |
| Huomautukset |
ISBN vain osassa painosta |
| Julkaisija |
Tampere :
Tampereen teknillinen korkeakoulu,
1998.
|
| Sarja | Raportti / Tampereen teknillinen korkeakoulu, materiaaliopin laitos, elektronimikroskopian laboratorio, ISSN 1455-4518; 1998, 11. |
| Luokitus | |
| Aiheet | |
| Lisätiedot | J. Keränen |
| ISBN |
952-15-0050-6 nidottu |