Guest editorial:metrology for 5G technologies

QR-koodi

Guest editorial:metrology for 5G technologies

http://urn.fi/urn:nbn:fi-fe2020102687673

Teksti

Fan, W. (Wei) ; Chen, X. (Xiaoming) ; Kyösti, P. (Pekka) ; Rumney, M. (Moray) ; Loh, T. H. (Tian Hong)

Institution of Electrical Engineers

Tallennettuna:

Ulkoasu

application/pdf

Kieli

englanti

Henkilökuntanäyttö