Microwave noise measurements on nanoelectronic devices
Microwave noise measurements on nanoelectronic devices
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
1 verkkoaineisto (63 sivua) : kuvitettu |
|---|---|
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Tiivistelmän kieli |
suomi |
| Huomautukset |
Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa. |
| Julkaisija |
Helsinki :
Aalto University,
[2020]
|
| Opinnäyte | Väitöskirja : Aalto-yliopisto, teknillisen fysiikan laitos, 2020 |
| Sarja | Aalto University publication series, Doctoral dissertations, ISSN 1799-4942; 2020, 19 |
| Luokitus | |
| Aiheet | |
| Lisätiedot | Teemu Elo |
| Painettu |
978-952-60-8936-2 |
| ISBN |
978-952-60-8937-9 PDF |
| Pääsy | Aineisto on vapaasti saatavissa |