Semiconductor measurements and instrumentation
Finna-recension
Semiconductor measurements and instrumentation
Sparad:
| Fysisk beskrivning |
x, 454 pages : ill |
|---|---|
| Språk |
engelska |
| Originalverkets språk |
engelska |
| Utgivare |
New York :
McGraw-Hill,
1998.
|
| Ämnen | |
| Mer information | W. R. Runyan, T. J. Shaffner |
| ISBN |
0-07-057697-1 |