Haku

Semiconductor measurements and instrumentation

Kuvaan voi liittyä käytön rajoituksia.

Katso käyttöehdot

QR-koodi

Semiconductor measurements and instrumentation

Tallennettuna:
Ulkoasu
x, 454 pages : ill
Kieli
englanti
Alkuteoksen kieli
englanti
Julkaisija New York : McGraw-Hill 1998.
Aiheet
Lisätiedot
W. R. Runyan, T. J. Shaffner
ISBN
0-07-057697-1