Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Finna-recension
Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Sparad:
Fysisk beskrivning |
xii, 345 pages |
---|---|
Språk |
engelska |
Originalverkets språk |
engelska |
Utgivare |
Chichester :
Wiley,
1998.
|
Ämnen | |
Mer information | E. Ajith Amerasekera, Farid N. Najm |
ISBN |
0-471-95482-9 |